雷射粒徑分析儀/Malvern/Mastersizer 3000

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Mastersizer 3000(點我看型錄)採用雷射光散射技術(Laser Diffraction Method, ISO13320)測量粒徑。 當雷射光束穿過分...

Mastersizer 3000(點我看型錄)採用雷射光散射技術(Laser Diffraction Method, ISO13320)測量粒徑。 當雷射光束穿過分散的顆粒樣品時,通過測量散射光的強度來完成粒徑及粒徑分佈測量。 然後資料用於分析計算形成該散射光譜圖的粒徑分佈。
典型的系統由三個主要元件構成:
• 光學平臺:分散的樣品穿過光學平臺的測量區,在該測量區,雷射光束照射到顆粒上。 當紅光和藍光照射到樣品顆粒時,會在很寬的角度內產生散射,一系列檢測器能夠準確測量顆粒的散射光強。
• 樣品分散裝置: 樣品分散由一系列乾濕法分散裝置控制。 確保顆粒以正確的濃度以及合適穩定的分散狀態傳送至光學平臺的測量區域。
• 儀器軟體: Mastersizer 3000軟體在測量過程中對系統進行控制(自動對焦及背景扣除),並對散射資料進行分析,計算粒徑分佈。 該軟體還可在方法開發過程中提供即時回饋,內建結果品質判斷功能,提供專業建議。

基本

分析原理 雷射光散射
分析模型 Mie 與 Fraunhofer 散射
測量粒徑範圍 10nm – 3.5mm
取樣速度 10 kHz
量測時間  <10 秒
分析精確性 / 再現性 優於0.6% / 優於0.5%變異
測量粒徑範圍 10nm – 3500μm

光學

紅光源 Max 4mW He-Ne, 632.8nm
藍光源 Nominal 10mW LED, 470nm
鏡頭安排 反向傅立葉(會聚光束)
有效焦距 300mm

感測器

排列 對數間隔陣列
角度範圍 0.015 – 144 degrees
對準 自動化
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雷射粒徑分析儀/Malvern/Mastersizer 3000 共有 2 則評價

  1. newpowers_ac

  2. newpowers_ac

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